Desarrollo de patrones de frecuencia en el IR basados en láseres de diodo
- Galindo Santos, Juan
- Alcón Camas, Mercedes
- Carrasco Sanz, Ana
- Martín López, Sonia
- Corredera Guillén, Pedro
ISSN: 2171-8814
Año de publicación: 2012
Título del ejemplar: ESPECIAL OPTOEL´11
Volumen: 45
Número: 2
Páginas: 221-231
Tipo: Artículo
Otras publicaciones en: Óptica pura y aplicada
Resumen
Los peines ópticos han aumentando hasta niveles casi impensables la precisión de la medida de frecuencias láser en el rango óptico. Sin embargo esta técnica requiere que los láseres a medir sean muy estrechos y muy estables para alcanzar dichos niveles. En este trabajo se presentan las primeras medidas realizadas con el peine de frecuencias del IO en el rango de 1550 nm. Estas medidas se centran en la estabilidad y anchura de línea de un láser y la medida de la frecuencia absoluta. Con estos resultados se han calibrado dos medidores de longitud de onda propios para su uso en las comunicaciones ópticas. Además, se presenta la estabilización de un diodo láser en la absorción del Rb atómico en la región espectral de 780 nm, el cual se pretende usar como patrón de calibración de medidores de longitud de onda en estas frecuencias y como láser de referencia para la comparación de relojes ópticos y de peines de frecuencia.