Characterization of commercial-off-the-shelf electronic components at cryogenic temperatures

  1. Valiente-Blanco, I.
  2. Diez-Jimenez, E.
  3. Cervantes-Montoro, J.A.
  4. Perez-Diaz, J.L.
Revista:
Instruments and Experimental Techniques

ISSN: 0020-4412

Año de publicación: 2013

Volumen: 56

Número: 6

Páginas: 665-671

Tipo: Artículo

DOI: 10.1134/S0020441214010187 GOOGLE SCHOLAR