In-line detection and evaluation of surface defects on thin metallic wires
- Martínez-Antón, J.C.
- Siegmann, P.
- Sanchez-Brea, L.M.
- Bernabeu, E.
- Gómez-Pedrero, J.A.
- Canabal, H.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
ISSN: 0277-786X
Any de publicació: 2001
Volum: 4399
Pàgines: 27-34
Tipus: Aportació congrés
