Digital correlated double sampling CCD readout characterization

  1. Cruz De La Torre, C.
  2. De Vicente, J.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X 0277-786X

ISBN: 9781510619715

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 10709

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.2312498 GOOGLE SCHOLAR