Propuesta metodológica para caracterizar las áreas expuestas a riesgos tecnológicos mediante SIG, aplicación en la comunidad de Madrid
- Díaz Muñoz, María de los Angeles
- González Ferreiro, Diego
- Bosque Sendra, Joaquín
- Gómez Delgado, Montserrat
- Díaz Castillo, Concepción
ISSN: 1578-5157
Year of publication: 2004
Issue: 4
Type: Article
More publications in: Geofocus: Revista Internacional de Ciencia y Tecnología de la Información Geográfica
Abstract
la cartografía de riesgos existen dos componentes de carácter espacial: la definición y caracterización de las áreas expuestas, por una parte y, por otra, el análisis de la vulnerabilidad de la población y el territorio. En este artículo, la atención se centra exclusivamente en el primer componente, la exposición. Se plantea un procedimiento sencillo para establecer las zonas potencialmente expuestas a riesgos tecnológicos en el territorio. Se utilizan para ello las funciones de cálculo de distancias de un SIG, lo que permite determinar tres variables: zonas expuestas a algún riesgo, la intensidad de la exposición a riesgos en cada punto y la ¿probabilidad espacial¿ de ser afectado por un algún peligro de tipo tecnológico en la Comunidad de Madrid (España).