3D active edge silicon detector tests with 120 GeV muons
- Da Vià, C.
- Deile, M.
- Hasi, J.
- Kenney, C.
- Kok, A.
- Parker, S.
- Watts, S.
- Anelli, G.
- Avati, V.
- Bassetti, V.
- Boccone, V.
- Bozzo, M.
- Eggert, K.
- Ferro, F.
- Inyakin, A.
- Kaplon, J.
- Bahilo, J.L.
- Morelli, A.
- Niewiadomski, H.
- Noschis, E.
- Oljemark, F.
- Oriunno, M.
- Österberg, K.
- Ruggiero, G.
- Snoeys, W.
- Tapprogge, S.
- Montrer des auteurs +
ISSN: 0018-9499
Année de publication: 2009
Volumen: 56
Número: 2
Pages: 505-518
Type: Article