Observation of the Naive-T-odd sivers effect in deep-inelastic scattering
- Airapetian, A.
- Akopov, N.
- Akopov, Z.
- Aschenauer, E.C.
- Augustyniak, W.
- Avetissian, A.
- Avetisyan, E.
- Bacchetta, A.
- Ball, B.
- Bianchi, N.
- Blok, H.P.
- Böttcher, H.
- Bonomo, C.
- Borissov, A.
- Bryzgalov, V.
- Burns, J.
- Capiluppi, M.
- Capitani, G.P.
- Cisbani, E.
- Ciullo, G.
- Contalbrigo, M.
- Dalpiaz, P.F.
- Deconinck, W.
- De Leo, R.
- De Nardo, L.
- De Sanctis, E.
- Diefenthaler, M.
- Di Nezza, P.
- Dreschler, J.
- Düren, M.
- Ehrenfried, M.
- Elbakian, G.
- Ellinghaus, F.
- Elschenbroich, U.
- Fabbri, R.
- Fantoni, A.
- Felawka, L.
- Frullani, S.
- Gabbert, D.
- Gapienko, G.
- Gapienko, V.
- Garibaldi, F.
- Gharibyan, V.
- Giordano, F.
- Gliske, S.
- Hadjidakis, C.
- Hartig, M.
- Hasch, D.
- Hill, G.
- Hillenbrand, A.
- Hoek, M.
- Holler, Y.
- Hristova, I.
- Imazu, Y.
- Ivanilov, A.
- Jackson, H.E.
- Jo, H.S.
- Joosten, S.
- Kaiser, R.
- Keri, T.
- Kinney, E.
- Kisselev, A.
- Korotkov, V.
- Kozlov, V.
- Kravchenko, P.
- Lagamba, L.
- Lamb, R.
- Lapikás, L.
- Lehmann, I.
- Lenisa, P.
- Linden-Levy, L.A.
- López Ruiz, A.
- Lorenzon, W.
- Lu, X.-G.
- Lu, X.-R.
- Ma, B.-Q.
- Mahon, D.
- Makins, N.C.R.
- Manaenkov, S.I.
- Manfré, L.
- Mao, Y.
- Marianski, B.
- Martinez De La Ossa, A.
- Marukyan, H.
- Miller, C.A.
- Miyachi, Y.
- Movsisyan, A.
- Murray, M.
- Mussgiller, A.
- Nappi, E.
- Naryshkin, Y.
- Nass, A.
- Negodaev, M.
- Nowak, W.-D.
- Pappalardo, L.L.
- Perez-Benito, R.
- Reimer, P.E.
- Reolon, A.R.
- Riedl, C.
- Rith, K.
- Rosner, G.
- Rostomyan, A.
- Rubin, J.
- Ryckbosch, D.
- Salomatin, Y.
- Sanftl, F.
- Schäfer, A.
- Schnell, G.
- Schüler, K.P.
- Seitz, B.
- Shibata, T.-A.
- Shutov, V.
- Stancari, M.
- Statera, M.
- Steijger, J.J.M.
- Stenzel, H.
- Stewart, J.
- Stinzing, F.
- Taroian, S.
- Terkulov, A.
- Trzcinski, A.
- Tytgat, M.
- Vandenbroucke, A.
- Van Der Nat, P.B.
- Van Haarlem, Y.
- Van Hulse, C.
- Varanda, M.
- Veretennikov, D.
- Vikhrov, V.
- Vilardi, I.
- Vogel, C.
- Wang, S.
- Yaschenko, S.
- Ye, H.
- Ye, Z.
- Yen, S.
- Yu, W.
- Zeiler, D.
- Zihlmann, B.
- Zupranski, P.
- Mostrar todos os autores +
ISSN: 0031-9007, 1079-7114
Ano de publicación: 2009
Volume: 103
Número: 15
Tipo: Artigo