DISPOSITIVO PARA LA MEDIDA DE LA RETRORREFLECTIVIDAD EN EL INFRARROJO CERCANO DE SUPERFICIES RETRORREFLECTIVAS.

    Inventores/as:
  1. Saturnino Maldonado Bascón
  2. Philip Siegmann
  3. LOPEZ FERRERAS, FRANCISCO
  4. Pedro Gil Jiménez
  5. Hilario Gómez Moreno
  6. Roberto Javier López Sastre
  7. Sergio Lafuente Arroyo
  8. Francisco Javier Acevedo Rodríguez
  1. Universidad de Alcalá
    info

    Universidad de Alcalá

    Alcalá de Henares, España

ES
Publicación principal:

ES2358814A1 (16-05-2011)

Otras Publicaciones:

ES2358814B1 (02-04-2012)

Solicitudes:

P200801528 (23-05-2008)

Resumen

Dispositivo para la medida de la retroreflectividad en el infrarrojo cercano de superficies retroreflectivas.

Presentamos un dispositivo para la evaluación automatizada del deterioro de superficies retroreflectivas, como pueden ser por ejemplo en las señales de tráfico. Esta evaluación se hace por medio de la medida de la retroreflectividad en el infrarrojo cercano con longitud de onda comprendida entre 700 y 1100 nm. aproximadamente. Para este propósito se utiliza una fuente de radiación y un sistema de adquisición de imágenes en el infrarrojo cercano, y un sistema de procesado de las imágenes. En este dispositivo, los vértices del cono de irradiación y de visión son prácticamente coincidentes, y se superponen total o parcialmente. Todas las superficies retroreflectivas que se encuentran en la zona donde se superponen los dos campos son susceptibles de ser evaluadas. Un procesado de imágenes las detecta y reconoce, y determina el valor de la retroreflectividad en el infrarrojo cercano para cada elemento de superficie que compone cada una de las superficies retroreflectivas completas.

INVENES: P200801528 ESPACENET
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