Characterization of the resonant third-order nonlinear susceptibility of Si-doped GaN/AlN quantum wells and quantum dots at 1.5 μm

  1. Valdueza-Felip, S.
  2. Naranjo, F.B.
  3. González-Herráez, M.
  4. Fernández, H.
  5. Solis, J.
  6. Guillot, F.
  7. Monroy, E.
  8. Tchernycheva, M.
  9. Nevou, L.
  10. Julián, F.H.
Actas:
Optics InfoBase Conference Papers

ISSN: 2162-2701

Año de publicación: 2008

Tipo: Aportación congreso