Structural and optical characterization of thick InGaN layers and InGaN/GaN MQW grown by molecular beam epitaxy

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Revista:
Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology

ISSN: 0921-5107

Año de publicación: 2002

Volumen: 93

Número: 1-3

Páginas: 131-134

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/S0921-5107(02)00032-6 GOOGLE SCHOLAR
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