Identifica't
Grups
Investigadors/es
Resultats
Fixed kernel regression for voltammogram feature extraction
Acevedo Rodriguez, F.J.
López-Sastre, R.J.
Gil-Jiménez, P.
Ruiz-Reyes, N.
Maldonado Bascón, S.
Revista
:
Measurement Science and Technology
ISSN
:
0957-0233
,
1361-6501
Any de publicació
:
2009
Volum
:
20
Número
:
12
Tipus
:
Article
Exporta
Exporta
×
MLA
modern-language-association
APA
apa
Chicago
chicago-fullnote-bibliography
Harvard
harvard-cite-them-right
Vancouver
vancouver-author-date
RIS
BibTex
Exporta
×
El document no es pot exportar perquè pertany a un altre portal.
DOI:
10.1088/0957-0233/20/12/125202
GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus
Contacta
Avís legal
translate
ca
arrow_drop_down
translate
ca
arrow_drop_down
es
eu
gl
en
fr
de