Identifikatu
Taldeak
Ikertzaileak
Emaitzak
Fixed kernel regression for voltammogram feature extraction
Acevedo Rodriguez, F.J.
López-Sastre, R.J.
Gil-Jiménez, P.
Ruiz-Reyes, N.
Maldonado Bascón, S.
Aldizkaria
:
Measurement Science and Technology
ISSN
:
0957-0233
,
1361-6501
Argitalpen urtea
:
2009
Alea
:
20
Zenbakia
:
12
Mota
:
Artikulua
Esportatu
Esportatu
×
MLA
modern-language-association
APA
apa
Chicago
chicago-fullnote-bibliography
Harvard
harvard-cite-them-right
Vancouver
vancouver-author-date
RIS
BibTex
Esportatu
×
Dokumentua ezin da beste atari batetik esportatu.
DOI:
10.1088/0957-0233/20/12/125202
GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus
Kontaktua
Lege-oharra
translate
eu
arrow_drop_down
translate
eu
arrow_drop_down
es
ca
gl
en
fr
de