Neurological hemifield test in binasal defects
- Rebolleda, G.
- Díez-Álvarez, L.
- Arrondo, E.
- Ley, L.
- Millán, J.M.-S.
- Muñoz-Negrete, F.J.
ISSN: 1552-5783, 0146-0404
Datum der Publikation: 2015
Ausgabe: 56
Nummer: 4
Seiten: 2568-2569
Art: Brief
ISSN: 1552-5783, 0146-0404
Datum der Publikation: 2015
Ausgabe: 56
Nummer: 4
Seiten: 2568-2569
Art: Brief