Neurological hemifield test in binasal defects
- Rebolleda, G.
- Díez-Álvarez, L.
- Arrondo, E.
- Ley, L.
- Millán, J.M.-S.
- Muñoz-Negrete, F.J.
ISSN: 1552-5783, 0146-0404
Año de publicación: 2015
Volumen: 56
Número: 4
Páginas: 2568-2569
Tipo: Carta
ISSN: 1552-5783, 0146-0404
Año de publicación: 2015
Volumen: 56
Número: 4
Páginas: 2568-2569
Tipo: Carta