The effect of the III/V ratio and substrate temperature on the morphology and properties of GaN- and AlN-layers grown by molecular beam epitaxy on Si(1 1 1)

  1. Sanchez-Garcia, M.A.
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  7. Beresford, R.
Revista:
Journal of Crystal Growth

ISSN: 0022-0248

Año de publicación: 1998

Volumen: 183

Número: 1-2

Páginas: 23-30

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0022-0248(97)00386-2 GOOGLE SCHOLAR