The effect of the III/V ratio and substrate temperature on the morphology and properties of GaN- and AlN-layers grown by molecular beam epitaxy on Si(1 1 1)
- Sanchez-Garcia, M.A.
- Calleja, E.
- Monroy, E.
- Sanchez, F.J.
- Calle, F.
- Muñoz, E.
- Beresford, R.
ISSN: 0022-0248
Año de publicación: 1998
Volumen: 183
Número: 1-2
Páginas: 23-30
Tipo: Artículo