Reduction of vibration-induced errors in 3D measurement systems with vision and structured light

  1. Luna, C.A.
  2. Mazo, M.
  3. Lázaro, J.L.
  4. Vázquez, J.F.
  5. Ureña, J.
  6. García, J.J.
  7. Sarmiento, H.
Actes:
IEEE International Symposium on Industrial Electronics

ISBN: 9780780387386

Any de publicació: 2005

Volum: III

Pàgines: 1291-1296

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ISIE.2005.1529111 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus