Reduction of vibration-induced errors in 3D measurement systems with vision and structured light

  1. Luna, C.A.
  2. Mazo, M.
  3. Lázaro, J.L.
  4. Vázquez, J.F.
  5. Ureña, J.
  6. García, J.J.
  7. Sarmiento, H.
Actas:
IEEE International Symposium on Industrial Electronics

ISBN: 9780780387386

Año de publicación: 2005

Volumen: III

Páginas: 1291-1296

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ISIE.2005.1529111 GOOGLE SCHOLAR
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